MARC details
000 -VODEĆE POLJE |
fixed length control field |
01127nam a2200301 i 4500 |
001 - KONTROLNI BROJ |
control field |
104443 |
003 - IDENTIFIKATOR KONTROLNOG BROJA (KOD USTANOVE) |
control field |
HR-ZaIRB |
005 - DATUM ZADNJE IZMJENE ZAPISA |
control field |
20190207160725.0 |
008 - ELEMENTI PODATAKA NEPROMJENJIVE DUŽINE |
Elementi podataka nepromjenjive dužine |
190207s1992 ch a|||fr|||| 10| 0 eng d |
020 ## - MEĐUNARODNI STANDARDNI KNJIŽNI BROJ (ISBN) |
ISBN |
9780878496280 |
|
ISBN |
80878496289 |
022 ## - MEĐUNARODNI STANDARDNI BROJ SERIJSKE PUBLIKACIJE (ISSN) |
ISSN |
0255-5476 |
040 ## - IZVOR KATALOGIZACIJE |
Središte koje obavlja izvornu katalogizaciju |
HR-ZaIRB |
Jezik katalogizacije |
hrv |
Središte koje transkribira zapis |
HR-ZaIRB |
Kataložna pravila |
ppiak |
080 ## - BROJ UNIVERZALNE DECIMALNE KLASIFIKACIJE |
Glavni UDK broj |
621.315.592 |
111 1# - NAZIV SASTANKA |
Naziv sastanka ili naziv unesen pod sjedištem |
International Conference |
Mjesto sastanka |
Betlehem, Pennsylvania. |
Datum održavanja sastanka |
1991. |
Redni broj sastanka |
16. |
245 10 - STVARNI NASLOVI I PODACI O ODGOVORNOSTI |
Glavni stvarni naslov |
Defects in semiconductors 16, part 2: |
Ostatak naslova - usporedni naslovi, podnaslovi, nadnaslovi |
proceedings of the 16th International Conference / |
Podaci o odgovornosti - autori, koautori, suradnici... |
edited by Gordon Davies, Gary G. DeLeo and Michael Stavola. |
260 ## - PODACI O IZDAVANJU, RASPAČAVANJU I SL. |
Mjesto izdavanja i/ili raspačavanja |
Zuerich : |
Nakladnik i/ili raspačavatelj |
Trans tech, |
Godina izdavanja/autorskih prava |
1992. |
300 ## - MATERIJALNI OPIS |
Broj stranica (str,) |
540-1080 str. : |
Podatak o ilustracijama |
ilustr. ; |
Dimenzije (u cm) |
25 cm. |
490 1# - PODACI O NAKLADNIČKOJ CJELINI |
Podatak o nakladničkoj cjelini |
Materials science forum ; |
Numeracija |
vol.83-87 |
ISSN |
0255-5476 |
830 #0 - SPOREDNA ODREDNICA ZA NAKLADNIČKU CJELINU |
Skupni stvarni naslov nakladničke cjeline |
Materials science forum |
504 ## - NAPOMENA O BIBLIOGRAFIJI, KAZALIMA |
Tekst napomene |
Kazalo |
653 ## - KLJUČNE RIJEČI |
Ključna riječ |
hydrogen in compound semiconductors |
-- |
silicon and compound semiconductors |
-- |
transition metal impurities |
-- |
EL2 snd anti-site related defects |
700 1# - SPOREDNA OSOBNA ODREDNICA |
Kod za vrstu autorstva |
edt |
Osobno ime (prezime, ime) |
Davies, Gordon |
|
Kod za vrstu autorstva |
edt |
Osobno ime (prezime, ime) |
DeLeo, Gary G. |
|
Kod za vrstu autorstva |
edt |
Osobno ime (prezime, ime) |
Stavola, Michael |