Defects in semiconductors 16, part 2: (Record no. 26712)

MARC details
000 -VODEĆE POLJE
fixed length control field 01127nam a2200301 i 4500
001 - KONTROLNI BROJ
control field 104443
003 - IDENTIFIKATOR KONTROLNOG BROJA (KOD USTANOVE)
control field HR-ZaIRB
005 - DATUM ZADNJE IZMJENE ZAPISA
control field 20190207160725.0
008 - ELEMENTI PODATAKA NEPROMJENJIVE DUŽINE
Elementi podataka nepromjenjive dužine 190207s1992 ch a|||fr|||| 10| 0 eng d
020 ## - MEĐUNARODNI STANDARDNI KNJIŽNI BROJ (ISBN)
ISBN 9780878496280
ISBN 80878496289
022 ## - MEĐUNARODNI STANDARDNI BROJ SERIJSKE PUBLIKACIJE (ISSN)
ISSN 0255-5476
040 ## - IZVOR KATALOGIZACIJE
Središte koje obavlja izvornu katalogizaciju HR-ZaIRB
Jezik katalogizacije hrv
Središte koje transkribira zapis HR-ZaIRB
Kataložna pravila ppiak
080 ## - BROJ UNIVERZALNE DECIMALNE KLASIFIKACIJE
Glavni UDK broj 621.315.592
111 1# - NAZIV SASTANKA
Naziv sastanka ili naziv unesen pod sjedištem International Conference
Mjesto sastanka Betlehem, Pennsylvania.
Datum održavanja sastanka 1991.
Redni broj sastanka 16.
245 10 - STVARNI NASLOVI I PODACI O ODGOVORNOSTI
Glavni stvarni naslov Defects in semiconductors 16, part 2:
Ostatak naslova - usporedni naslovi, podnaslovi, nadnaslovi proceedings of the 16th International Conference /
Podaci o odgovornosti - autori, koautori, suradnici... edited by Gordon Davies, Gary G. DeLeo and Michael Stavola.
260 ## - PODACI O IZDAVANJU, RASPAČAVANJU I SL.
Mjesto izdavanja i/ili raspačavanja Zuerich :
Nakladnik i/ili raspačavatelj Trans tech,
Godina izdavanja/autorskih prava 1992.
300 ## - MATERIJALNI OPIS
Broj stranica (str,) 540-1080 str. :
Podatak o ilustracijama ilustr. ;
Dimenzije (u cm) 25 cm.
490 1# - PODACI O NAKLADNIČKOJ CJELINI
Podatak o nakladničkoj cjelini Materials science forum ;
Numeracija vol.83-87
ISSN 0255-5476
830 #0 - SPOREDNA ODREDNICA ZA NAKLADNIČKU CJELINU
Skupni stvarni naslov nakladničke cjeline Materials science forum
504 ## - NAPOMENA O BIBLIOGRAFIJI, KAZALIMA
Tekst napomene Kazalo
653 ## - KLJUČNE RIJEČI
Ključna riječ hydrogen in compound semiconductors
-- silicon and compound semiconductors
-- transition metal impurities
-- EL2 snd anti-site related defects
700 1# - SPOREDNA OSOBNA ODREDNICA
Kod za vrstu autorstva edt
Osobno ime (prezime, ime) Davies, Gordon
Kod za vrstu autorstva edt
Osobno ime (prezime, ime) DeLeo, Gary G.
Kod za vrstu autorstva edt
Osobno ime (prezime, ime) Stavola, Michael
Holdings
Povučeno s posudbe Izgubljeno Nije za posudbu Zbirka Knjižnica Knjižnica Fizički smještaj Signatura Barkod Inventarni broj Vrsta građe
      Zbirka znanstvene literature Knjižnica Instituta Ruđer Bošković Knjižnica Instituta Ruđer Bošković 1. krilo 03.71/233/2 0981027457 38833 Knjiga

© Knjižnica Instituta Ruđer Bošković 2011. Kontaktirajte nas putem e-pošte, na telefon +38514561043, ili osobno u Knjižnici IRB-a.